Grandissement x1000, imagerie par MEB, mode électrons secondaires, tension accélératrice 15 kV, distance de travail 15,5 mm. par Virgil MALARD Parution : 20180101
Micrographie obtenue au MEB avec les paramètres suivants : grandissement x200, HT = 10kV et WD = 13,8mm. Le détecteur d’électrons secondaires a été utilisé pour réaliser ce cliché. Le matériel est un acier USIBOR. par Mehdi BAIJA Parution : 20180101
Carbure de tungstène sur un faciès de rupture d'un super-alliage à base de Co (MEB S-FEG FEI Nova NanoSEM 450, SE, 15 kV, champ d'observation ~32×32 µm2). Provenance : Mines Paris-Tech par Vladimir ESIN Parution : 20180101
Scanning electron micrograph at 100x of a stainless steel 316L+WC composite (WC in white) coating obtained by additive manufacturing. par Tommaso MAURIZI ENRICI Parution : 20180101