TEM image of a 200 nm MgO nanocube during in situ nano-compresssion between a diamond flat punch Tip and a sapphire substrate. par Inas ISSA Parution : 20150101
Micrographie au grossissement x300, Tension d’accélération : 10 kV, Distance de travail : 15 mm, Mode électrons secondaires Échantillon : Verre métallique base Cu par Oriane BAULIN Parution : 20170101
Croissance d’un intermétallique binaire Fe/Si. «Girafe» de 15µm de haut détectée par analyse au MEB-FEG par électrons rétrodiffusés et cartographie EDS. par Grégory LEUILLIER Parution : 20150101