Mots-clés : Jacquet

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Confluence

Micrographie au grossissement x25, au microscope ZEISS Imager.A1m , sur un échantillon enrobé, poli, et attaqué au Villela, d’un acier type Duplex.
 par Thibaut HUIN
 Parution : 20160101

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Mosaïque des temps modernes

Micrographie révélant un contraste d’orientation cristallographique dans un échantillon de superalliage base nickel partiellement recristallisé, acquise avec un détecteur Bruker ArgusTM. Ce détecteur, est constitué de trois diodes placées sous l’écran CCD d’une caméra EBSD et captant ainsi l’intensité diffusée vers l’avant dans trois secteurs angulaires distincts (FSD : Forward Scattered electron Detector). La combinaison de ces trois signaux codés RGB (ou Rouge Vert Bleu) est très sensible aux fluctuations d’orientation cristalline.
 par Meriem ZOUARI
 Parution : 20150101

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Gardienne d’oxyde au chaperon

Micrographie de la surface d’un revêtement ZrB 2 -SiC réalisé par projection plasma de poudre puis oxydé à 2300°C sous flux plasma (MEB, électrons secondaires, grandissement x2000).
 par Aurélie QUIET
 Parution : 20170101

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Points de suspension

Micrographie MEB au grossissement x5000, de la zone fondue d’un point soudé de composite acier-céramique. La structure eutectique est révélée par une attaque Villela.
 par Christine KACZYNSKI
 Parution : 20160101

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Prison miniature de borures

Micrographie réalisée au MEB-FEG (x9000, 10 kV, 7,7 mm), en électrons secondaires, d’un composite à matrice métallique fait d’une matrice de Ti-3Al-2,5V et de renforts en TiB, obtenu par compaction isostatique à chaud de poudres puis traitement thermique à haute température.
 par Ludovic ROPARS
 Parution : 20170101

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