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One in a million

This image was taken with a SEM Zeiss supra 55 at 15 eV with a magnification of 2.95K and a working distance of 15.6 mm. The material on display is a high purity nickel powder
 par Lucia GARCIA DE LA CRUZ
 Parution : 20170101

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Champs de pâquerettes

Micrographie au grossissement x1000, au MEB Jeol JSM-6390, en mode électrons secondaires, sur un faciès de rupture d’un acier type Dual Phase
 par Alexandre GIBOT
 Parution : 20160101

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Fourmilière

Micrographie au grossissement x50, au microscope optique, sur un échantillon enrobé, poli, et attaqué au Nital puis recuit sous atmosphère oxydante
 par Thibaut HUIN
 Parution : 20170101

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Recristallisation dynamique d’un acier AISI 316Nb – Bonhomme de neige

Micrographie EBSD sur un acier inoxydable austénitique AISI 316Nb au grandissement de x600 réalisée a partir d’un MEB FEI Nova NanoSEM 450 à émission de champ couplé à une caméra EDAX TSL Hikari. Tiltée à 70°, la zone d’observation est soumise à une tension d’accélération de 15KV. La distance de travail est de 13mm et le pas de la mesure et de 0.15µm.
 par Alexandre HERMANT
 Parution : 20160101

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