Dépôt nanométrique d'or sur du titane poli miroir. Image de surface en microscopie électronique à balayage avec le détecteur d'électrons secondaires. Grossissement fois 200 000. par Quentin AUZOUX Parution : 20180101
Observation de zone de liquation dans un alliage à base d’Al 2219 (MEB S-FEG FEI Nova NanoSEM 450, BSE, 10 kV, champ d'observation ~250×250 µm2). par Vladimir ESIN Parution : 20180101
Grandissement x1000, imagerie par MEB, mode électrons secondaires, tension accélératrice 15 kV, distance de travail 15,5 mm. par Virgil MALARD Parution : 20180101
Micrographie obtenue au MEB avec les paramètres suivants : grandissement x200, HT = 10kV et WD = 13,8mm. Le détecteur d’électrons secondaires a été utilisé pour réaliser ce cliché. Le matériel est un acier USIBOR. par Mehdi BAIJA Parution : 20180101