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Amorçage secondaire sur une inclusion d’aln en fatigue

Image MEB d’une fractographie de fatigue d’un acier martensitique à très haute résistance au grandissement x 4000 réalisée à partir d’un MEB FEI Nova NanoSEM 450 à émission de champ, la zone d’observation est soumise à une tension d’accélération de 10KV. La distance de travail est de 7,2 mm.
par Hayat ABDESSELAM
Parution : 20180101

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La tortue

Image EBSD sur nuance duplex. Mise en évidence de l’austénite en couleur par le mode IPF X dans une matrice ferritique vert d’eau (band constrast) GDT X 1000 pas de 55nm (2200X1650 pixels).
par Laurent CHAPUIS
Parution : 20180101

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Le ressac

Micrographie MEB (JEOL JSM-6400F) en électrons secondaires de la surface d’un acier K41X oxydé à 800°C pendant 300 heures sous air. Grossissement x5000, tension d’accélération 15 kV.
par Maria-Rosa ARDIGO-BESNARD
Parution : 20180101

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