Micrographie obtenue au MEB avec les paramètres suivants : grandissement x3kx, HT = 15kV. Le détecteur d’électrons secondaires a été utilisé pour réaliser ce cliché. Le matériau est un acier FeTiB2 par Gérard PETITGAND Parution : 20180101
Observation de surface d'un échantillon de titane oxydé en milieu aqueux et chaud en microscopie électronique à balayage avec le détecteur d'électrons secondaires. Grossissement fois 7 250. par Quentin BIGNON Parution : 20180101
Image prise au MEB Quanta FEG 250 – grossissement x300 en électron secondaire. Microstructure d’un alliage d’aluminium de fonderie, AlSi9, et de son couplage entre une « brulure » pendant la mise en solution et une contrainte mécanique causée par la trempe de la pièce. par Serge QUANTIN Parution : 20180101