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One in a million

This image was taken with a SEM Zeiss supra 55 at 15 eV with a magnification of 2.95K and a working distance of 15.6 mm. The material on display is a high purity nickel powder
 par Lucia GARCIA DE LA CRUZ
 Parution : 20170101

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Champs de pâquerettes

Micrographie au grossissement x1000, au MEB Jeol JSM-6390, en mode électrons secondaires, sur un faciès de rupture d’un acier type Dual Phase
 par Alexandre GIBOT
 Parution : 20160101

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Ecailles d’acier

Micrographie obtenue au MEB avec les paramètres suivants : grandissement x3kx, HT =15kV et WD = 8mm. Le détecteur d’électrons secondaires a été utilisé pour réaliser ce cliché. Le matériel est un acier inoxydable 316l obtenu par 3D printing.
 par Magalie BOUZAT
 Parution : 20180101

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