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Recristallisation dynamique d’un acier AISI 316Nb – Bonhomme de neige

Micrographie EBSD sur un acier inoxydable austénitique AISI 316Nb au grandissement de x600 réalisée a partir d’un MEB FEI Nova NanoSEM 450 à émission de champ couplé à une caméra EDAX TSL Hikari. Tiltée à 70°, la zone d’observation est soumise à une tension d’accélération de 15KV. La distance de travail est de 13mm et le pas de la mesure et de 0.15µm.
par Alexandre HERMANT
Parution : 20160101

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Barrière rocheuse

Micrographie au grossissement x25, au microscope confocal, sur un échantillon enrobé, poli, et attaqué au Villela et Nital, d’une soudure hétérogène d’acier auténito-ferritique.
par Thibaut HUIN
Parution : 20170101

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Confluence

Micrographie au grossissement x25, au microscope ZEISS Imager.A1m , sur un échantillon enrobé, poli, et attaqué au Villela, d’un acier type Duplex.
par Thibaut HUIN
Parution : 20160101

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Mosaïque des temps modernes

Micrographie révélant un contraste d’orientation cristallographique dans un échantillon de superalliage base nickel partiellement recristallisé, acquise avec un détecteur Bruker ArgusTM. Ce détecteur, est constitué de trois diodes placées sous l’écran CCD d’une caméra EBSD et captant ainsi l’intensité diffusée vers l’avant dans trois secteurs angulaires distincts (FSD : Forward Scattered electron Detector). La combinaison de ces trois signaux codés RGB (ou Rouge Vert Bleu) est très sensible aux fluctuations d’orientation cristalline.
par Meriem ZOUARI
Parution : 20150101

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