Micrographie au MEB FEG Zeiss Supra 40 en mode électron secondaire, grossissement x665. Matériau à gradient de fonction - alliage Ti6Al4V-Mo par Catherine SCHNEIDER MAUNOURY Parution : 20170101
Fractographie de grossissement x20 000, obtenue en microscopie électronique à balayage (MEB ZEISS DSM982 Gemini). Il s’agit du faciès de rupture d’un alliage métallique de zirconium « modèle », fortement enrichi en oxygène (26 % atomiques) rompu à température ambiante. par Raphael CHOSSON Parution : 20150101
Micrographie obtenue au MEB (grossissement x500) sur un échantillon (enrobé, poli et attaqué avec les réactifs de Kalling’s n°2), de poudre d’acier renforcée par dispersion d’oxydes et sphéroïdisées par torche plasma. par Élodie VASQUEZ Parution : 20170101
Micrographie de grossissement x1000, obtenue en microscopie électronique à balayage, après une attaque de type dissolution anodique sélective sur un alliage métallique de zirconium « modèle », fortement enrichi en oxygène (10 % atomiques). par Raphael CHOSSON Parution : 20150101