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Nazca Carbide

Scanning electron micrograph at 400x of a giant M6C carbide obtained in a stainless steel + WC composite after DTA test.
par Tommaso MAURIZI ENRICI
Parution : 20180101

Acier Inoxydable, Jacquet

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Tas de planches

Micrographie obtenue au MEB avec les paramètres suivants : grandissement x700, HT = 25kV et WD = 33,7mm. Le détecteur d’électrons secondaires a été utilisé pour réaliser ce cliché. Le matériau est un acier duplex.
par Patrick BARGES
Parution : 20180101

Acier, Jacquet

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Poupée Russe

Microscopie Electronique à Balayage Carl Zeiss Merlin, détecteur d’électrons secondaires, 15kV, 1nA. Poudre métallique recyclée utilisée en fabrication additive. Le défaut apparent est engendré par la fabrication. La projection de métal liquide vient piéger d’autres grains de poudres.
par Aurélie GERBAUD
Parution : 20180101

Jacquet, Poudre métallique

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Perdu dans un labyrinthe de tungstène

Fractographie MEB d’un fil de tungstène après rupture en traction à froid. Image MEB : Tension d’accélération à 5kV Grossissement : x 10000 Matériau : Fil de tungstène structure cubique centrée, métallurgie des poudres et tréfilage
par Rudy MICHEL
Parution : 20180101

Jacquet, Tungstène

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Nanocosmos le peuple de l’acier !

Imagerie en Microscopie Electronique en Transmission (MET) (X 500 000) et Cartographie en Analyse X des éléments Ti, Fe.
par Patrick BARGES
Parution : 20180101

Fer, Jacquet, Titane