Scanning transmission Electron Microscopy (STEM) – High Angle Annular Dark Field (HAADF) – Cu-5%pdsAg vieilli 2h à 400°C. par Manon BONVALET Parution : 20160101
Fractographie d’un alliage cuivreux, obtenue au Microscope Electronique à Balayage (X100), sur un faciès de rupture. par Djan KOÇAK Parution : 20180101
Micrographie MEB au grossissement x2000 d’un alliage Al-Cu- Li, après dissolution partielle de la matrice d’aluminium. par Christine NARDIN Parution : 20180101