Micrographie obtenue au MEB Grandissement x1100, tension 10 kV, détecteur d'électrons secondaires, poudre d'acier 316L obtenue par atomisation au gaz.
par Flore VILLARET
Parution : 20180101
Acier, Jacquet, Poudre
Micrographie obtenue au microscope optique. Après un attaque Flash Nital + Klemm 2.
par Valerie DAESCHLER
Parution : 20180101
Acier, Jacquet
Image obtenue en Microscopie Optique. Le matériel est un acier bas densité « Triplex ».
par Irene DE DIEGO CALDERON
Parution : 20180101
Acier, Jacquet
Micrographie obtenue en microscopie optique après attaque colorante sur un acier Duplex.
par Xavier GARAT
Parution : 20180101
Acier, Jacquet
Fractographie obtenue à la loupe binoculaire.
par Thomas HENRION
Parution : 20180101
Acier, Jacquet