Le ressac

 

Auteur : Maria-Rosa ARDIGO-BESNARD
Micrographie MEB (JEOL JSM-6400F) en électrons secondaires de la surface d’un acier K41X oxydé à 800°C pendant 300 heures sous air. Grossissement x5000, tension d’accélération 15 kV.
Parution : 01/01/2018

Mots-clés : ,

La micrographie permet d’observer une couche d’oxyde écaillée qui recouvre le substrat. L’image met en évidence la nature duplex de la couche d’oxyde, formée par des fins grains de Cr2O3 dans la partie inférieure et par des gros cristaux pyramidaux de (Cr,Mn)3O4 dans la partie supérieure. Provenance : Université de Bourgogne Franche-Comté